Download	Versand	Abo **
Sprache: Deutsch, Englisch	38,20 EUR	39,00 EUR	Artikel zum Abo auswählen
** Erfahren Sie  hier mehr zu Abonnements-Lösungen für Normen

Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 47/2107/CDV:2011); German version EN 60749-27:2006/FprA1:2011

Dokumentart: Norm-Entwurf

Ausgabedatum: 2011-10

Erscheinungsdatum: 2011-10-04

Einführungsbeitrag:

Dieser Entwurf für eine Änderung von DIN EN 60749-27:2007 enthält einen Vorschlag, Stromspitzenwerte, die nicht überschwingen, bei den Festlegungen zur Impulsform zu berücksichtigen. Dazu sind einige Ergänzungen im Abschnitt über den Stromimpuls vorgesehen. In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, um Halbleiterbauelemente hinsichtlich deren Empfindlichkeit auf Beschädigungen oder Degradationen (Leistungsminderungen) zu prüfen und zu klassifizieren, wenn diese Bauelemente mit einer elektrostatischen Entladung (ESD; en: electrostatic discharge) nach dem festgelegten Maschinen-Modell (MM) beansprucht werden. Dieses Verfahren darf alternativ zum ESD-Prüfverfahren nach dem Human-Body-Modell (siehe DIN EN 607490-26) verwendet werden. Ziel ist es, zuverlässige und wiederholbare ESD-Prüfergebnisse für eine korrekte Klassifizierung zu erhalten. Dieses Prüfverfahren kann bei allen Halbleiterbauelementen angewandt werden und ist als zerstörend eingestuft. Zuständig ist das K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Sprachen: Deutsch, Englisch