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Titel (englisch): Superconductivity - Part 12: Matrix to superconductor volume ratio measurement - Copper to non-copper volume ratio of Nb₃Sn composite superconducting wires; (IEC 90/273/CD:2011)

Dokumentart: Norm-Entwurf

Ausgabedatum: 2011-12

Erscheinungsdatum: 2011-11-28

Einführungsbeitrag:

Dieser Norm-Entwurf beschreibt das Messverfahren zur Bestimmung des Verhältnisses von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen von Cu/Nb₃Sn-Drähten. Das hier angegebene Messverfahren ist anzuwenden auf Nb₃Sn-Verbundsupraleiterdrähte mit einer Querschnittsfläche von 0,1 mm² bis 3 mm² und einem Verhältnis von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen von 0,1 und größer. Das Verfahren berücksichtigt nicht den Durchmesser der Filamente; jedoch ist es nicht anzuwenden auf supraleitende Drähte, in denen die Filamente, Sn, CuSn, Barrierenmaterial sowie andere Nicht-Kupfer-Anteile in der Kupfermatrix verteilt sind, oder auf solche mit verteiltem Stabilisierungsmaterial. Außerdem kann das Verhältnis von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen an den Drahtproben vor oder nach der Wärmebehandlung zur Ausbildung der Nb₃Sn-Phase bestimmt werden. Der Cu/Nb₃Sn-Draht hat eine monolithische Struktur mit rundem oder rechteckigem Querschnitt. Dieses Verfahren kann, obwohl sich die Messunsicherheit erhöht, angewandt werden zur Messung des Verhältnisses von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen von Cu/Nb₃Sn-Drähten, deren Querschnitt und Verhältnis von Kupfervolumen zu kupferfreiem Volumen außerhalb der spezifizierten Bereiche liegen. Dieses Messverfahren kann, mit entsprechenden Modifikationen, für andere Verbundsupraleiterdrähte angewandt werden. Zuständig ist das K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Änderungsvermerk:

Gegenüber DIN EN 61788-12 (VDE 0390-12):2003-05 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) In der Einleitung wurde die Beschreibung des Messverfahrens an die Übersetzung angepasst; b) Kapitel 1 (Anwendungsbereich) wurde an die Übersetzung angepasst und zur Klar- und Richtigstellung der Begriff "Messunsicherheit" benutzt; c) in Kapitel 4 wurde der Begriff "Metallograph" in "Mikroskop für Metallographie" übersetzt und im Weiteren verwendet; d) in Kapitel 6 wurden Teile neu übersetzt; e) in Kapitel 8 wurde die Überschrift zur Richtigstellung neu übersetzt; f) im Anhang A wurde ein fehlender Teil neu übersetzt hinzugefügt; g) Anhang B wurde zum Teil neu übersetzt und ergänzt; h) in Anhang C wurde nach Norm der englische Begriff "relative combined standard uncertainty" mit "relativer Standardmessunsicherheit" übersetzt; i) Anhang D wurde neu strukturiert (D1 bis D4); j) die Überschrift in Anhang E wurde übersetzt; k) in Anhang F wurde der Begriff "Verzerrung" anstatt "Fehler" benutzt; l) die Bildunterschrift G. 1 wurde zur Richtigstellung neu übersetzt; m) ab Anhang H (informativ) wurde die Norm komplett neu übersetzt, da in der deutschen Vorgängerversion keine Übersetzung vorlag.

Sprachen: Deutsch, Englisch