Download	Versand	Abo **
Sprache: Deutsch, Englisch		28,80 EUR	Artikel zum Abo auswählen
** Erfahren Sie  hier mehr zu Abonnements-Lösungen für Normen

Titel (englisch): Superconductivity - Part 15: Electronic characteristic measurements - Intrinsic surface impedance of superconductor films at microwave frequencies (IEC 90/218/CD:2008)

Dokumentart: Norm-Entwurf

Ausgabedatum: 2009-01

Erscheinungsdatum: 2009-01-19

Einführungsbeitrag:

Seit der Entdeckung der Hoch-T_c-Supraleiter (HTS) sind weltweit eingehende Forschungsarbeiten bezüglich elektronischer Anwendungen unternommen und Anwendungen großen Maßstabs mit HTS-Filtersubsystemen basierend auf YBa₂Cu₃O_7-((delta)) (YBCO) bereits kommerzialisiert worden. Vorzüge der Verwendung von HTS-Filmen für Mikrowellengeräte, wie zum Beispiel Resonatoren, Filter, Antennen, Verzögerungsleitungen, beinhalten, dass i) Mikrowellenverluste von HTS-Filmen extrem gering sein können und dass ii) wegen des extrem geringen Mikrowellenoberflächenwiderstands (R_S) und der frequenzunabhängigen Eindringtiefe (λ) von HTS-Filmen keine Signaldispersion in Übertragungsleitungen, die aus HTS-Filmen bestehen, stattfindet. Diesbezüglich ist es, wenn es um die Auslegung von auf HTS basierenden Mikrowellengeräten geht, wichtig, die Oberflächenimpedanz (Z_S) von HTS-Filmen zu messen.
Das in dem vorliegenden Norm-Entwurf vorgestellte Testverfahren ermöglicht es, nicht nur den intrinsischen Oberflächenwiderstand, sondern durch die Verwendung eines einzelnen Saphirresonators auch die intrinsische Oberflächenreaktanz von HTS-Filmen ungeachtet der Filmdicke zu messen. Es kann ebenso auf HTS-beschichtete Leiter, HTS-Massivleiter und andere Supraleiter angewendet werden, für die Modelle für die Eindringtiefe etabliert worden sind. Es ist das Ziel dieses Norm-Entwurfs, den Ingenieuren, die auf den Feldern der Elektronik und der Supraleitertechnologie arbeiten, unter den gegenwärtigen Umständen eine geeignete und akzeptable technische Basis zur Verfügung zu stellen.
Das in diesem Norm-Entwurf beschriebene Testverfahren ist auf dem VAMAS-(Versailles Project on Advanced Materials and Standards-)TWA-16-Treffen diskutiert worden. Der Norm-Entwurf beschreibt Messungen der intrinsischen Oberflächenimpedanz (Z_S) von HTS-Filmen bei Mikrowellenfrequenzen mithilfe eines modifizierten dielektrischen Resonatorverfahrens im Doppelresonanzmodus. Gegenstand der Messung ist, die Temperaturabhängigkeit des intrinsischen Z_Sbei der Resonanzfrequenz zu erhalten.
Für den Norm-Entwurf ist das DKE/K 184 "Supraleiter" zuständig.

Sprachen: Deutsch, Englisch