Navigation

Suche

http://www.beuth.de/cmd?workflowname=suggest&field=frei&languageid=de&query=

Hauptnavigation

Warenkorb

  
Norm-Entwurf

DIN ISO 24173:2012-01

Titel (deutsch): Mikrobereichsanalyse - Leitfaden zur Messung der Orientierung mit Elektronenrückstreudiffraktometrie (ISO 24173:2009)

  Download Versand Abo **
Sprache: Deutsch
PDF

** Erfahren Sie  hier mehr zu Abonnements-Lösungen für Normen

Titel (englisch): Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction (ISO 24713:2009)

Dokumentart: Norm-Entwurf

Ausgabedatum: 2012-01

Erscheinungsdatum: 2012-01-30

Einführungsbeitrag:

Dieser Norm-Entwurf liefert eine Anleitung, wie mit der Elektronenrückstreudiffraktometrie (EBSD) verlässliche und reproduzierbare Messungen der Kristallorientierung durchgeführt werden können. Sie behandelt die Anforderungen an die Probenvorbereitung, an Gerätekonfiguration, Gerätekalibrierung sowie Datenerfassung. Der Norm-Entwurf wendet sich an Hersteller von EBSD-Geräten sowie Anwender von EBSD. Für diesen Norm-Entwurf ist das Gremium NA 062-08-18 AA "Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse" im DIN zuständig.

Sprachen: Deutsch

 

Kunden, die diesen Artikel gekauft haben, kauften auch:

Informationen