Navigation

Suche

http://www.beuth.de/cmd?workflowname=suggest&field=frei&languageid=de&query=

Hauptnavigation

Warenkorb

  
Norm

BS EN 60749-14:2003-12-15

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Festigkeit der Bauelementeanschluesse (Unversehrtheit der Anschluesse)

Produktabbildung - BS EN 60749-14:2003-12-15
  Download Versand Abo **
Sprache: Englisch
PDF

** Erfahren Sie  hier mehr zu Abonnements-Lösungen für Normen

Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Robustness of terminations (lead integrity)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2003-12-15

Sprachen: Englisch

 

Kunden, die diesen Artikel gekauft haben, kauften auch:

  • Produktabbildung - DIN EN 62047-12:2012-06
    Norm

    DIN EN 62047-12:2012-06

    Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Biege-Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen (IEC 62047-12:2011); Deutsche Fassung EN 62047-12:2011

Informationen