Norm
BS EN 60749-2:2002-09-24
Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Niedriger Luftdruck
Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Low air pressure
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2002-09-24
Sprachen: Englisch
