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BS EN 60749-23+A1:2004-06-24

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Lebensdauer bei hoher Temperatur

Produktabbildung - BS EN 60749-23+A1:2004-06-24
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Sprache: Englisch
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Titel (englisch): Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2004-06-24

Sprachen: Englisch

 

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