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BS EN 60749-27:2006-09-29

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Pruefverfahren. Pruefung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD). Machine Model (MM)

Produktabbildung - BS EN 60749-27:2006-09-29
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Titel (englisch): Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2006-09-29

Sprachen: Englisch

 

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