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BS EN 60749-30+A1:2006-01-27

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen

Produktabbildung - BS EN 60749-30+A1:2006-01-27
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Sprache: Englisch
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Titel (englisch): Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2006-01-27

Sprachen: Englisch

 

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