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BS EN 60749-33:2004-06-22

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Beschleunigte Verfahren fuer Feuchtebestaendigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung

Produktabbildung - BS EN 60749-33:2004-06-22
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2004-06-22

Sprachen: Englisch

 

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