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BS EN 60749-38:2008-06-30

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher

Produktabbildung - BS EN 60749-38:2008-06-30
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Soft error test method for semiconductor devices with memory

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2008-06-30

Sprachen: Englisch

 

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