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BS EN 60749-4:2002-09-10

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Feuchte Waerme, konstant, Pruefung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST)

Produktabbildung - BS EN 60749-4:2002-09-10
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2002-09-10

Sprachen: Englisch

 

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