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BS EN 60749-40:2011-09-30

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen

Produktabbildung - BS EN 60749-40:2011-09-30
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Sprache: Englisch
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Titel (englisch): Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using a strain gauge

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2011-09-30

Sprachen: Englisch

 

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