Norm
BS EN 60749-6:2002-09-10
Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren Lagerung bei hoher Temperatur
Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Storage at high temperature
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2002-09-10
Sprachen: Englisch
