Norm
BS EN 60749-9:2002-09-24
Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Bestaendigkeit der Kennzeichnung
Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Permanence of marking
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2002-09-24
Sprachen: Englisch
