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BS EN 62047-3:2006-11-30

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Duennschicht-Standardmikroprobe fuer die Pruefung der Zugbeanspruchung

Produktabbildung - BS EN 62047-3:2006-11-30
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Sprache: Englisch
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Thin film standard test piece for tensile testing

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2006-11-30

Sprachen: Englisch

 

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