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BS EN 62373:2006-09-29

Titel (deutsch): Stabilitaetspruefung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung fuer Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)

Produktabbildung - BS EN 62373:2006-09-29
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Titel (englisch): Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2006-09-29

Sprachen: Englisch

 

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