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BS EN 62374-1:2010-12-31

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente. Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

Produktabbildung - BS EN 62374-1:2010-12-31
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Sprache: Englisch
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Titel (englisch): Semiconductor devices. Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2010-12-31

Sprachen: Englisch

 

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