Norm
BS ISO 16700:2004-09-29
Titel (deutsch): Mikrosondenanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Anleitung fuer die Kalibrierung der Bildvergroesserung
Titel (englisch): Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Guidelines for calibrating image magnification
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2004-09-29
Sprachen: Englisch

