BS ISO 22493:2008-10-31

Titel (deutsch): Mikrobereichsanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Vokabular

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Titel (englisch): Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Vocabulary

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2008-10-31

Sprachen: Englisch

Norm
DIN 58741-5:2012-06

Optikfertigung - Diamantbesetzte Topfscheiben - Teil 5: Mit galvanischer Belegung