Norm
DIN 58172-1:2007-07
Titel (deutsch): Prüfung von optischen Systemen - Teil 1: Symmetrieabweichungen
Titel (englisch): Testing of optical systems - Part 1: Deviations from symmetry
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2007-07
Änderungsvermerk:
Gegenüber DIN 58172-1:1982 10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Abschnitt 3 der Ausgabe 1982 (Bezeichnung des Verfahrens) wurde ersatzlos gestrichen; b) Abschnitt 4 der Ausgabe 1982 (Systeme mit ausgedehntem Bildfeld) wurde an DIN ISO 9334 und DIN ISO 9335 angepasst; c) Beschreibung des Interferometers und der interferometrischen Messung wurde gestrichen bzw. durch Verweisung auf ISO 14999-4 ersetzt.
Sprachen: Deutsch
Ersatz für:
Dokument: zitiert
Dokument: wird zitiert
