DIN EN 1071-1:2003-06
Titel (deutsch): Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit einem Kontaktprofilometer; Deutsche Fassung EN 1071-1:2003
Titel (englisch): Advanced technical ceramics - Methods of test for ceramic coatings - Part 1: Determination of coating thickness by contact probe profilometer; German version EN 1071-1:2003
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2003-06
Einführungsbeitrag:
Die Europäische Norm wurde von der Arbeitsgruppe 5 "Prüfung von keramischen Beschichtungen" des CEN/TC 184 "Hochleistungskeramik" (Sekretariat: BSI, Großbritannien) erstellt.
Zu EN 1071-1 gibt es kein Arbeitsgremium im DIN, weil seitens der deutschen Fachöffentlichkeit kein Interesse an diesem Normungsthema bekundet wurde.
In der Norm ist ein Verfahren zur Bestimmung der Dicke keramischer Schichten durch Messung der Stufenhöhe mit einem Kontaktprofilometer festgelegt. Dazu muss ein Teil des Substrats unbeschichtet bleiben. Das kann durch partielle Abdeckung des Substrats während des Beschichtungsvorgangs erreicht werden, z. B. mittels Abdeckplatte oder Klebeband, oder indem auf den Verbund Schicht/Substrat ein Ritzverfahren bis zur Ablösung der Schicht angewendet wird.
Änderungsvermerk:
a) Zusätzlicher Tastspitzenradius von 5 Mikrometern zugelassen; b) Abschnitt "Durchführung" präziser formuliert.
Sprachen: Deutsch
Dokument: zitiert
Dokument: wird zitiert
