Navigation

Suche

http://www.beuth.de/cmd?workflowname=suggest&field=frei&languageid=de&query=

Hauptnavigation

Warenkorb

  
Norm

DIN EN 60747-16-4:2011-08

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Schalter (IEC 60747-16-4:2004 + A1:2009); Deutsche Fassung EN 60747-16-4:2004 + A1:2011

Produktabbildung - DIN EN 60747-16-4:2011-08
  Download Versand Abo **
Sprache: Deutsch
PDF

** Erfahren Sie  hier mehr zu Abonnements-Lösungen für Normen

Titel (englisch): Semiconductor devices - Part 16-4: Microwave integrated circuits - Switches (IEC 60747-16-4:2004 + A1:2009); German version EN 60747-16-4:2004 + A1:2011

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2011-08

Einführungsbeitrag:

In diesem Teil von IEC 60747 werden neue Messverfahren, die Terminologie und Buchstabensymbole sowie Bemessungswerte und Kennwerte für integrierte Mikrowellenschalter beschrieben. Es gibt viele Kombinationen für HF-Anschlüsse in Schaltern wie einpolige Ein-/Ausschalter (Single Pole Single Throw, SPST), einpolige Umschalter (Single Pole Double Throw, SPDT), einpolige Dreifachumschalter (Single Pole Triple Throw, SP3T), zweipolige Umschalter (Double Pole Double Throw, DPDT) und so weiter. Die Schalter, die in dieser Norm beschrieben werden, basieren auf SPDT-Schaltern. Diese Norm ist jedoch auch für andere Schalterarten anwendbar. Zuständig ist das UK 631.1 "Einzel-Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Änderungsvermerk:

Gegenüber DIN EN 60747-16-4:2005-03 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Alle Abschnitte wurden unter Berücksichtigung des gesamten Inhalts der vorherigen Ausgabe entsprechend den aktuellen Anforderungen an Form und Gestaltung überarbeitet. b) In Abschnitt 2 wurden bestehende Verweisungen durch neue Verweisungen ersetzt und hinzugefügt. c) Es wurden die Begriffe 3.1, 3.2 und 3.11 durch neue Begriffe ersetzt. d) Der Anhang ZA wurde komplett ersetzt.

Sprachen: Deutsch

Dokument: zitiert

 

Kunden, die diesen Artikel gekauft haben, kauften auch:

  • Produktabbildung - DIN EN 62047-12:2012-06

    Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Biege-Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen (IEC 62047-12:2011); Deutsche Fassung EN 62047-12:2011

Informationen