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DIN EN 60749-18:2003-09

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis) (IEC 60749-18:2002); Deutsche Fassung EN 60749-18:2003

Produktabbildung - DIN EN 60749-18:2003-09
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002); German version EN 60749-18:2003

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2003-09

Sprachen: Deutsch

 

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