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DIN EN 60749-27:2007-01

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM) (IEC 60749-27:2006); Deutsche Fassung EN 60749-27:2006

Produktabbildung - DIN EN 60749-27:2007-01
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006); German version EN 60749-27:2006

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2007-01

Sprachen: Deutsch

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