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Norm

DIN EN 60749-3:2003-04

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2002); Deutsche Fassung EN 60749-3:2002

Produktabbildung - DIN EN 60749-3:2003-04
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2003-04

Änderungsvermerk:

- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 1, Abschnitt 5, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.

Sprachen: Deutsch

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