Norm
DIN EN 60749-31:2003-12
Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 31: Entflammbarkeit von Bauelementen in Kunststoffgehäusen (Selbstentzündung) (IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003); Deutsche Fassung EN 60749-31:2003
Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic encapsulated devices (internally induced) (IEC 60749-31:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-31:2003
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2003-12
Änderungsvermerk:
Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: - Ergänzung der Festlegungen aus Kapitel 4, Abschnitt 1.1 von DIN EN 60749:2002-09 um Abschnitt 1 "Anwendungsbereich und Zweck" sowie die Überschriften zu den Abschnitten 2 und 3 und - Überarbeitung der Nummerierung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.
Sprachen: Deutsch
Ersatz für:
