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DIN EN 60749-36:2003-12

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 36: Gleichmäßiges Beschleunigen (IEC 60749-36:2003); Deutsche Fassung EN 60749-36:2003

Produktabbildung - DIN EN 60749-36:2003-12
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Sprache: Deutsch
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003); German version EN 60749-36:2003

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2003-12

Änderungsvermerk:

Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: - vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 2, Abschnitt 5, enthaltenen Prüfung. Dies betrifft sowohl das Verfahren als auch die Prüfdurchführung; insbesondere die Art der elektrischen Beanspruchung wurde neu festgelegt.

Sprachen: Deutsch

Ersatz für:

Dokument: zitiert

 

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