Norm
DIN EN 60749-38:2008-10
Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008); Deutsche Fassung EN 60749-38:2008
Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2008-10
Einführungsbeitrag:
In diesem Teil der Norm DIN EN 60749 ist ein Verfahren zur Messung der Fähigkeit des Datenerhalts von Halbleiterbauelementen mit Speichern für die Fälle festgelegt, wenn diese Bauelemente einer Beanspruchung mit hochenergetischen Teilchen wie der Alpha-Strahlung ausgesetzt sind. Zwei Prüfarten sind beschrieben:
- mit einer beschleunigenden Prüfbeanspruchung unter Verwendung einer Alpha-Strahlenquelle
- als eine (nicht beschleunigende) Beanspruchung unter Realzeit-Systembedingungen, bei der beliebige Fehler unter den Bedingungen der natürlich auftretenden Strahlung erzeugt werden, wobei diese Strahlung sowohl Alpha-Strahlung als auch andere Strahlungen, wie beispielsweise Neutronenstrahlung, enthalten kann.
Für diesen Teil ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" zuständig.
Sprachen: Deutsch
