Norm
DIN EN 60749-4:2003-04
Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST) (IEC 60749-4:2002); Deutsche Fassung EN 60749-4:2002
Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002); German version EN 60749-4:2002
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2003-04
Änderungsvermerk:
- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 4C, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.
Sprachen: Deutsch
Ersatz für:
Dokument: zitiert
