Norm
DIN EN 60749-6:2003-04
Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur (IEC 60749-6:2002); Deutsche Fassung EN 60749-6:2003
Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002); German version EN 60749-6:2003
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2003-04
Änderungsvermerk:
- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 2, enthaltenen Prüfung, so dass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.
Sprachen: Deutsch
Ersatz für:
Dokument: zitiert
