Norm
DIN EN 60749-9:2003-04
Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung (IEC 60749-9:2002); Deutsche Fassung EN 60749-9:2002
Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2003-04
Änderungsvermerk:
- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 4, Abschnitt 2, enthaltenen Prüfung, so dass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.
Sprachen: Deutsch
Ersatz für:
Dokument: zitiert
