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DIN EN 62374:2008-02

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007

Produktabbildung - DIN EN 62374:2008-02
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2008-02

Sprachen: Deutsch

 

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