Norm
NF X21-008; NF ISO 15632:2006-12-01:2006-12-01
Titel (deutsch): Elektronenstrahlmikroanalyse - Gerätespezifikation für energiedispersive Röntgenspektrometer mit Halbleiterdetektoren.
Titel (englisch): Microbeam analysis - Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors.
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2006-12-01
Sprachen: Französisch
