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Norm

NF X21-011; NF ISO 24173:2009-12-01:2009-12-01

Titel (deutsch): Mikrobereichsanalyse - Leitfaden zur Messung der Orientierung mit dem Elektronenrückstreudiffraktometrie.

Produktabbildung - NF X21-011; NF ISO 24173:2009-12-01:2009-12-01
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Sprache: Französisch
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Titel (englisch): Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction.

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2009-12-01

Sprachen: Französisch

 

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