Norm
OENORM EN 15042-2:2006-09-01
Titel (deutsch): Schichtdickenmessung und Charakterisierung von Oberflächen mittels Oberflächenwellen - Teil 2: Leitfaden zur photothermischen Schichtdickenmessung
Titel (englisch): Thickness measurement of coatings and characterization of surfaces with surface waves - Part 2: Guide to the thickness measurement of coatings by photothermic method
Dokumentart: Norm
Ausgabedatum: 2006-09-01
Sprachen: Deutsch


