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OENORM EN ISO 9220:1995-02-01

Titel (deutsch): Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:1988)

Produktabbildung - OENORM EN ISO 9220:1995-02-01
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Titel (englisch): Metallic coatings - Measurement of coating thickness - Scanning electron microscope method (ISO 9220:1988)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 1995-02-01

Sprachen: Deutsch

 

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