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OEVE/OENORM EN 60749-15:2011-08-01

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 15: Beständigkeit gegen Löttemperatur bei Bauelementen zur Durchsteckmontage (IEC 60749-15:2010) (deutsche Fassung)

Produktabbildung - OEVE/OENORM EN 60749-15:2011-08-01
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2010) (german version)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2011-08-01

Sprachen: Deutsch

 

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