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OEVE/OENORM EN 60749-23:2011-09-01

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (deutsche Fassung)

Produktabbildung - OEVE/OENORM EN 60749-23:2011-09-01
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (german version)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2011-09-01

Sprachen: Deutsch

 

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