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OEVE/OENORM EN 60749-3:2003-10-01

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2002)

Produktabbildung - OEVE/OENORM EN 60749-3:2003-10-01
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2003-10-01

Sprachen: Deutsch

 

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