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OEVE/OENORM EN 60749-30:2012-02-01

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (deutsche Fassung)

Produktabbildung - OEVE/OENORM EN 60749-30:2012-02-01
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (german version)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2012-02-01

Sprachen: Deutsch

 

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