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OEVE/OENORM EN 60749-33:2004-11-01

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung (IEC 60749-33:2004)

Produktabbildung - OEVE/OENORM EN 60749-33:2004-11-01
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749-33:2004)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2004-11-01

Sprachen: Deutsch

 

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