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OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)

Produktabbildung - OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2:2002-11-01
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2002-11-01

Sprachen: Deutsch

 

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