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OEVE/OENORM EN 62374-1:2011-08-01

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen (IEC 62374-1:2010) (deutsche Fassung)

Produktabbildung - OEVE/OENORM EN 62374-1:2011-08-01
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010) (german version)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2011-08-01

Sprachen: Deutsch

 

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