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OEVE/OENORM EN 62374:2008-03-01

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007)

Produktabbildung - OEVE/OENORM EN 62374:2008-03-01
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Titel (englisch): Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007)

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2008-03-01

Sprachen: Deutsch

 

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