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SN EN 62374-1; IEC 62374-1:2010:2010:2010

Titel (deutsch): Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

Produktabbildung - SN EN 62374-1; IEC 62374-1:2010:2010:2010
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Sprache: Englisch
 

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Titel (englisch): Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Dokumentart: Norm

Ausgabedatum: 2010

Sprachen: Englisch

 

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