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Technische Regel [AKTUELL]
DIN SPEC 91348:2016-11
Prüfung von kristallinen Silicium-Solarzellen auf die Anfälligkeit für Potential-induzierte Degradation
- Englischer Titel
- Testing crystalline silicon solar cells for susceptibility to potential induced degradation (PID)
- Ausgabedatum
- 2016-11
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 16
- Verfahren
- PAS
- Ausgabedatum
- 2016-11
- Originalsprachen
- Englisch
- Seiten
- 16
- Verfahren
- PAS
- DOI
- https://dx.doi.org/10.31030/2584651
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Einführungsbeitrag
Diese DIN SPEC wurde im Zuge des PAS-Verfahrens durch einen Workshop (temporäres Gremium) erarbeitet. Die Erarbeitung und Verabschiedung dieser DIN SPEC erfolgte durch die im Vorwort genannten Verfasser. Diese DIN SPEC definiert Anforderungen an den Test von unverkapselten kristallinen Silizium-Solarzellen auf Potential-induzierte Degradation.
Inhaltsverzeichnis
ICS
27.160
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/2584651
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