VDI/VDE 5575 Blatt 2:2015-06

Röntgenoptische Systeme - Messverfahren - Messaufbau und Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme

Englischer Titel: X-ray optical systems - Measurement methods - Measurement set-up and methods for the evaluation of X-ray optical systems
Ausgabedatum: 2015-06
Originalsprachen: Deutsch, Englisch
Seiten: 31

Ausgabedatum: 2015-06
Originalsprachen: Deutsch, Englisch
Seiten: 31

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Kurzreferat

Die Richtlinie beschreibt den Messaufbau und die Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme. Es werden Verfahren zur Charakterisierung der geometrischen Eigenschaften von Röntgenstrahlung und zur spektralen Analyse vorgestellt. Koordinatensysteme zur eindeutigen Beschreibung des Messaufbaus werden definiert. Geeignete Positionier- und Detektorsysteme für die unterschiedlichen Messaufgaben werden aufgeführt. Es wird eine Übersicht über gebräuchliche Röntgenquellen mit den für die Vermessung relevanten typischen Eigenschaften gegeben.

Inhaltsverzeichnis

ICS

17.180.30

Ersatzvermerk

Dokument wurde ersetzt durch VDI/VDE 5575 Blatt 2:2019-12 .

Auch enthalten in

Lade Empfehlungen...