Liebe Kundinnen, liebe Kunden,

es ist soweit: 

Aus dem Beuth Verlag ist DIN Media geworden. 

Mehr über unsere Umbenennung und die (Hinter)Gründe erfahren Sie hier.

Um unsere neue Website problemlos nutzen zu können, würden wir Sie bitten, Ihren Browser-Cache zu leeren. 

Herzliche Grüße

DIN Media

Wir sind telefonisch für Sie erreichbar!

Montag bis Freitag von 08:00 bis 15:00 Uhr

DIN Media Kundenservice
Telefon +49 30 58885700-70

Technische Regel [AKTUELL]

VDI/VDE 5590 Blatt 2:2022-01

Terahertzsysteme - Zeitbereichsspektrometer (TDS-Systeme)

Englischer Titel
Terahertz systems - Time domain spectroscopy (TDS) systems
Ausgabedatum
2022-01
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
36

Bitte Treffen Sie Ihre Auswahl

ab 103,50 EUR inkl. MwSt.

ab 96,73 EUR exkl. MwSt.

Kauf- und Sprachoptionen

PDF-Download
  • 103,50 EUR

Versand (3-5 Werktage)
  • 115,10 EUR

Normen-Ticker 1
1

Erfahren Sie mehr über den Normen-Ticker


Abonnement im Online-Dienst

Dieses Dokument ist auch im Online-Abonnement verfügbar. Erfahren Sie mehr über Online-Dienste

Zu passenden Online-Diensten
Ausgabedatum
2022-01
Originalsprachen
Deutsch, Englisch
Seiten
36

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Kurzreferat
Diese Richtlinie definiert Kenngrößen und Messverfahren, um Terahertzsysteme für die Zeitbereichsspektroskopie (TDS)zu spezifizieren. So können Hersteller ihre Systeme übereinstimmend beschreiben und Anwender einfach Systeme vergleichen. Systeme für die Terahertz-Zeitbereichsspektroskopie sind aktive Systeme und nutzen verschiedene Techniken sowohl zur Erzeugung als auch zur zeitaufgelösten Messung von breitbandigen Terahertzimpulsen. Die dazugehörigen Terahertzspektren und -Phasen werden nach einer zeitlichen Abtastung über eine Fourier-Transformation berechnet. In dieser Richtlinie wird ein Überblick über die Funktionsweisen von Zeitbereichsspektrometern gegeben, die eingesetzten Messverfahren näher erläutert sowie die benötigten Begriffe und Kenngrößen definiert. Die Richtlinie konzentriert sich dabei auf Systeme, die auf sogenannten Abtastmessverfahren (Sampling-Messverfahren) basieren
Inhaltsverzeichnis
ICS
17.180.30
Auch enthalten in
Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...