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Norm-Entwurf 2019-01-04

19/30364443 DC:2019-01-04 - Entwurf

Englischer Titel
BS EN IEC 62047-35. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 35. Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible and foldable electro-mechanical devices
Ausgabedatum
2019-01-04
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Englisch

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